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超低頻電纜介損測(cè)試儀豪泰標(biāo)配適用于絕緣等值電容較大的電氣設(shè)備（例如：電力電纜、電力電容器、大中型發(fā)電機(jī)和電動(dòng)機(jī)等）耐壓試驗(yàn)，符合 2004 年國(guó)家新頒布電力行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)《超低頻高壓發(fā)生器通用技術(shù)條件 DL/T849.4-2004》要求。

超低頻電纜介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用最新電力電子元器件和最新 ARM7 單片機(jī)技術(shù)，進(jìn)一步降低了設(shè)備的體積和重量，傻瓜式操作，性能更穩(wěn)定，克服了第一代機(jī)械式升壓器使用壽命短、故障率高、體積大的缺點(diǎn)。

介質(zhì)損耗測(cè)試CVT變頻介損測(cè)試儀是絕緣試驗(yàn)中很基本的方法，可以有效地發(fā)現(xiàn)電器設(shè)備絕緣的整體受潮劣化變質(zhì)，以及局部缺陷等。

變頻介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，

變頻介質(zhì)損耗介損測(cè)試儀能夠分別使用內(nèi)高壓、外高壓、內(nèi)標(biāo)準(zhǔn)、外標(biāo)準(zhǔn)、正接法、反接法、自激法等多種方式測(cè)試；在外標(biāo)準(zhǔn)外高壓情況下可以做高電壓（大于10kV）介質(zhì)損耗。

全自動(dòng)抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)試儀JSY-05增設(shè)了外接法測(cè)試,外接標(biāo)準(zhǔn)電容器、調(diào)壓器,使得測(cè)試非常簡(jiǎn)單可靠,是我廠(chǎng)的第三代智能化介質(zhì)損耗測(cè)試儀。

變頻抗干擾介質(zhì)損耗測(cè)量?jī)x0.2級(jí)通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，通過(guò)矢量運(yùn)算得出試品的電容值和介質(zhì)損耗正切值。

特種變頻介質(zhì)損耗測(cè)試儀——招代理通過(guò)測(cè)量電路分別測(cè)得標(biāo)準(zhǔn)回路電流與被試回路電流幅值及其相位差，再由數(shù)字信號(hào)處理器運(yùn)用數(shù)字化實(shí)時(shí)采集方法，

高、中壓介質(zhì)損耗測(cè)試儀測(cè)量過(guò)程由微處理器控制，只要選擇好合適的測(cè)量方式，數(shù)據(jù)的測(cè)量就可在微處理器控制下自動(dòng)完成。

介質(zhì)損耗特性測(cè)試儀豪泰科技輸出45Hz和55Hz純正弦波，自動(dòng)加壓，高10kV的電壓；自動(dòng)濾除50Hz干擾，適用于變電站等電磁干擾大的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試。